保有設備　詳細表示

設備名　：　電界放出型走査型電子顕微鏡（FE-SEM EBSD対応）

メーカ 型式 日本電子(株)、オックスフォード・インストゥルメンツ(株) JSM-7800F、AztecHKL NordlysNano

仕様 内容 機能：電子顕微鏡（FE-SEM）、元素分析（EDS） 結晶方位解析（EBSD） 二次電子分解能：0.8nm（加速電圧1kV及び15kV） 特徴：低真空モード、TTL（減速光学系） 電子顕微鏡、元素分析、結晶方位解析

導入年度 利用料 担当部門 担当部 用途 備考 予約状況 2013 16000 円／時間 材料 金属材料 依頼試験　設備利用　研究・相談 ----

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