設備名 : 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 |
| メーカ | 型式 |
| (株)日立ハイテクノロジーズ | S-5200 |
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| 仕様 | 内容 |
最高分解能:0.5nm 加速電圧:0.5〜30kV SEM、EDAX分析、走査透過像、YAG反射電子像 | 超高倍率における表面観察・分析評価 |
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| 導入年度 | 利用料 | 担当部門 | 担当部 | 用途 | 備考 | 予約状況 |
| 2003 | ---- | 材料 | 金属材料 | 依頼試験 研究・相談
| 地域産業集積活性化対策事業補助金 の一部として導入 | ---- |
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