長野県工業技術総合センター
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電気・電子機器


電子部品・材料測定器

インピーダンスアナライザ*
 HP 4291B          

電子部品のインピーダンス測定
1M〜1.8GHz                    

TDRインピーダンス測定装置
 日本テクトロニクス(株)  TDS8000B/80E04
プリント基板上の伝送路、ケーブルの特性インピーダンスを測定
パルスの入射立上り時間 23ps
インピーダンス/ゲインフェーズアナライザ   HP 4194A 電子部品・材料のインピーダンス測定
100〜100MHz   

LCRメータ*
 Agilent Technologies E4980A

電子部品、材料の測定  20Hz〜2MHz

ネットワークアナライザ*
 HP 8510XF

高周波部品・材料の測定
45MHz〜110GHz
プローバ Cascade Summit9000 〜40GHz
基板用治具 Wiltron 3680 〜20GHz
同軸管 〜18GHz、導波管 L〜Qバンド

ネットワークアナライザ*
 R&S ZVB20

高周波部品・アンテナの特性評価
10MHz〜20GHz

コロナ測定装置*
 大日本電線 QM-3

電子部品・材料のコロナ放電電圧測定
〜1kV、〜15kV

振動試料型磁力計*

磁化特性の測定 磁気異方性トルクの測定
測定範囲:±0.001〜±100emu,1〜300dyne-cm

交流磁化特性測定装置
 岩崎通信機(株) SY-8232

磁性材料の交流磁化特性測定
測定周波数範囲:10Hz〜10MHz

直流磁化特性測定装置
 電子磁気工業(株) BH-5501

直流磁化磁性材料の直流磁化特性測定

半導体パラメータ測定装置*

半導体、電子材料及び部品の電気特性測定
測定機能:直流電流,電圧,容量,直流電流 −電圧特性

ホール定数測定装置*

半導体材料の特性測定
測定項目:比抵抗,ホール定数,キャリア濃度,移動度

強誘電体テストシステム
  ラジアントテクノロジー RT 600 HVS
電子材料の強誘電体特性の測定
 測定電圧:±4000V 測定可能容量範囲:1pF〜100pF

不良解析プローバ*

電子デバイス、材料の電気特性評価
マニピュレータ分解能:0.7μm シールドボックス

表面抵抗測定装置*

表面抵抗の測定
4探針法 6探針法 測定範囲:10mΩ/sq〜100GΩ/sq

光スペクトラムアナライザ*
日本自転車振興会補助物件

光学的特性の測定
波長範囲:0.35〜1.1μm 測定レベル範囲:10〜-60dB

可変波長光源*
日本自転車振興会補助物件

光学的特性の測定
波長範囲:0.6〜1.6μm 分解能:1〜15nm,1nmステップ

 * 来場して使用できます。
汎用測定器

スペクトラムアナライザ*
 HP 8563E        

周波数スペクトラム
30Hz〜26.5GHz                

高速サンプリングデジタルオシロスコープ
レクロイ・ジャパン(株) WaveMaster8600A

差動信号の測定、USB2.0、イーサネットの信号品質試験
周波数帯域 6GHz

デジタルオシロスコープ*
 Lecroy LC574A

波形測定
周波数帯域 1GHz

デジタルオシロスコープ*
 Tektronix DPO7254

波形測定
周波数帯域 2.5GHz

耐電圧試験器*
 菊水電子 TOS5101

耐電圧試験
AC/DC 10kV

パルス発生装置*
 三和電子製作所 SCP-30HB

高電圧パルス試験
6000V、30Amax パルス幅0.3〜50μs

 * 来場して使用できます。 


解析装置

高周波伝送特性解析装置*
 HP MDS            

高周波電子回路解析 シミュレーション
MDS/Momentum/Impulse             

三次元高周波電磁界解析装置*
 HP HFSS

高周波電磁界解析 シミュレーション

電界磁界解析装置*
 アンソフトジャパン Maxwell 3D
 Field Simulator

3次元電界・磁界解析
静磁場・動磁場解析
物体の変位・運動解析
インピーダンス測定
磁界可視化機能

 *:来場して使用できます。 古い機器を含みます。


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