分析・試験機器

分析機器

高感度クロマトグラフ質量分析システム
日本電子 GCmateU
日本自転車振興会補助物件

有機物の定性、定量分析
二重収束型
質量範囲 m/z:1〜3000
イオン化法:EI、CI

極微小領域解析装置
日本電子 JXA-8800R

波長分散型、同時分析元素数 5
最大試料寸法 100x100x50mm
分析可能試料段差 7mm
自動定性・定量分析

高感度有機物分析装置
ニコレー社
Nexus670 Continuμmシステム

測定波数範囲 25000〜50cm-1
最高分解能 0.09cm-1
スキャン速度 50回/秒(高速スキャン時)
顕微・ATR・PAS・加熱冷却他各種測定可能

ガスクロマトグラフ質量分析装置

有機物の定性分析質量
質量4500まで測定 二重収束 分解能:25000

熱特性評価装置*

融点 転移点 線膨張係数 DSC DTA TG TMAの測定

イオンクロマトグラフ*

陰、陽イオン、有機酸の定性、定量分析
電導度、吸光、電気化学検出器

蛍光X線分析装置*

固体、液体材料の元素の定性、定量分析
原子番号:4(Be)〜92(U) 波長分散型

レーザーアブレーション質量分析装置
セイコーインスツルメンツ(株)
SPQ9200/LSX200システム

Nd:YAGパルスレーザー、波長 266nm
最大1.6kW高周波プラズマイオン源
質量範囲 3〜260amu、四重極質量分析計
Li〜Uの極微量元素分析

高分解能電子顕微鏡システム
日本自転車振興会補助物件

微細部分の観察 定性分析
SEM:×300000,分解能:2nm TEM:×600000〜

座標測定走査電子顕微鏡

パターンの測長 微細部分の観察
倍率:×15〜200000 分解能:4.5nm

X線回析装置
リガク(株) RINT2100  

粉末、バルク、薄膜の結晶構造解析
出力2kW

微細X線光電子分析装置

極表面層の組成分析 深さ方向の組成分析
最小分析径:φ200μm 自動深さ分析 多試料自動分析

極表面複合分析装置
VG Scientific社 ESCALAB 250

分析項目 XPS,ISS,AES,SEM,REELS
XPS面分解能 20μm(スペクトルスコピー)
3μm(イメージング)
分析ステージ可動範囲 最大50×20×20mm

X線膜厚計

めっき等の薄膜の厚さ測定 簡易な定性分析
厚さ:0.1〜40μm 原子番号13(Al)-92(U) 統計処理機能

 * 来場して使用できます。


試験機器

機 器 名
メーカー名・型式

主な仕様

精密材料強度試験機
(株)島津製作所 AG-100kN IS MO型
日本自転車振興会補助物件

負荷容量:100kN
測定精度:±1%
ストローク:760mm
恒温槽温度範囲:−40℃〜+250℃

微小硬度計*           

微小部の硬さ試験
荷重:25〜1,000g                   

超微小硬度測定装置
(株)エリオニクス ENT-1100a

荷重範囲 0.098〜980mN
最大押し込み量 20μm
最大試料サイズ φ50×5mm

走査型レーザ顕微鏡*
オリンパス光学工業 OLS-2000

上下方向分解能 10nm
アルゴンレーザ
観察温度 最高 1500℃

走査型プローブ顕微鏡*
日本電子 JSPM-4200

AFM、STM機能
分解能 原子分解能
走査範囲  XY : 10μm Z : 3μm
XY : 80μm Z : 5μm
試料温度制御 -120〜+800℃

X線応力測定装置

金属部品等の残留応力測定
X線出力:30KV,10mA

キスラー圧電型動力計*

加工時の動力測定
測定範囲:500Kgf 固有振動数:4KHz

レーザードップラ振動計

工作機械等の微小振動測定
レーザードップラー式 分解能:5nm

はんだ濡性試験機*

はんだ濡れ性評価
ぬれ力 試験温度:〜400℃

腐食測定装置

水の自然電位、金属の腐食電位、速度の測定
最大出力電圧電流:50V,1A,10mHz〜20kHz
測定電流限界:1μA

デジタルマイクロスコープ*
日本自転車振興会補助物件

CCDカメラを用いて拡大観察を行い、コンパクトフラッシュカードにJPG画像として記録
 観察倍率1〜800倍 ズームレンズおよび工業顕微鏡が付属

 * 来場して使用できます。


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