精密・電子技術部門の保有設備



 区分 : 電気・電子測定機器
 ・名称をクリックすると詳細データが表示されます。
 ・予約状況欄の”表示”の文字をクリックすると該当機器の予約状況が表示されます
 ・企業の利用等が比較的多い設備について予約状況を表示しています。
利用される場合はお手数ですが、予約状況の表示の有無に関わらず必ず該当部門に電話で問い合わせてください。
名称内容仕様予約
状況
TDRインピーダンス測定装置プリント基板上の伝送路、ケーブルの特性インピーダンスを測定シングルエンド、差動、コモンモードのインピーダンス測定
パルスの入射立上り時間 23ps
 
インピーダンスゲインフェーズアナライザ電子部品材料のインピーダンス測定100Hz〜40MHz 
オイルバス標準抵抗器の高精度校正温度設定範囲:0〜100℃
温度安定性:±0.001℃
槽内容量:150L
 
キャパシタンスブリッジ標準コンデンサの校正10pF〜10μF
±10ppm
測定周波数:10Hz〜100kHz
 
コロナ測定装置絶縁材料のコロナ放電特性試験0.5/1.0/15/30kV 
スペクトラムアナライザ高周波スペクトラム観察30Hz〜26.5GHz 
デジタルオシロスコープ電源・信号等波形観測測定帯域:1GHz 
デジタルマルチメーター計測器の校正7桁
DCVA/ACVA/Ω
 
ホール定数測定装置半導体材料の特性測定測定項目:比抵抗/ホール定数/キャリア濃度/移動度 
ミリ波ネットワークアナライザ高周波用の部品・材料の特性を評価する周波数範囲 10MHz〜110GHz
テストポート 10MHz〜67GHz:4ポート、10MHz〜110GHz:2ポート
測定ドメイン 周波数軸及び時間軸
アプリケーション測定 差動伝送線路・アンプの利得圧縮・ミキサの変換利得
 
リアルタイムスペクトラムアナライザ広帯域デジタル変調信号の変調領域解析、時間領域解析、RF特性評価周波数:0Hz〜3GHz
変調フォーマット:
BPSK、QPSK、π/4DQPSK、0QPSK、8PSK、16QAM、64QAM、GMSK
 
可変波長光源光学的特性測定用光源波長範囲:0.6〜1.6μm
分解能:1〜15nm/1nmステップ
 
強誘電体テストシステム電子材料の強誘電体特性の測定測定電圧:±4000V
測定可能容量範囲:1pF〜100pF
 
計器校正装置電気指示計器の校正DCV:1000m〜1000Vレンジ
DCI:100μ〜30Aレンジ
ACV:100m〜1000Vレンジ
ACI:100m〜50Aレンジ
 
交直電圧電流比較装置交流電圧電流発生器の高精度校正測定範囲:ACV(2.2mV〜1kVレンジ)
ACI(2.5mA〜20Aレンジ)
最高精度:±22ppm
 
交流磁化特性測定磁性材料の交流磁化特性測定測定周波数範囲:10Hz〜10MHz
コア損失等測定
 
光スペクトラムアナライザ光学的特性の測定波長範囲:0.35〜1.1μm
測定レベル範囲:10〜-60dB
 
高周波インピーダンスアナライザ電子部品・材料のインピーダンス測定1MHz〜1.8GHz 
高速サンプリングオシロスコープ(周波数帯域25GHz)通信信号波形観測(シリアル通信で10Gbpsまで)
USB3.0(Super-Speed)信号品質評価
DDR信号品質評価

16ch入力のロジックアナライザ機能
サンプリング周波数 100GS/s
周波数帯域 25GHz
USB3.0テストアプリケーション
DDRテストアプリケーション
ジッタ解析アプリケーション

差動プローブ P7520A(25GHz) 1本
差動プローブ P7508(8GHz) 2本
ロジックプローブ P6717A(シングルエンド16ch)
 
高速サンプリングオシロスコープ(周波数帯域6GHz)通信信号波形観測(シリアル通信で1Gbpsまで)
USB2.0(Low Full Hi-Speed)信号品質評価
サンプリング周波数 20GHz
周波数帯域 6GHz
USB1.1・USB2.0、Ethernet(100BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T)のテストフィクチャ
 
指示計器電気計測17レンジ
DCVA
 
自動デジタル校正システムデジタル計測器の高精度校正DCV/ACV:〜1000V
DCI/ACI:〜10A
抵抗:10Ω〜100MΩ
最高精度:±2.5ppm
 
周波数カウンタ計測器の校正8桁 
振動試料型磁力計磁化特性の測定、磁気異方性トルクの測定磁化測定範囲:(±0.001〜±100)×4π・10-8Wb(=1emu)
トルク測定範囲(1〜300)×10-7N・m(=1dyn・cm)
 
精密電気標準測定装置直流電圧発生器の高精度校正測定範囲:0.15〜1500V
最高精度:±5ppm
 
耐電圧試験器製品の安全性試験AC/DC
10kV
 
超精密抵抗校正装置標準抵抗器の高精度校正測定範囲:1mΩ〜1GΩ
最高精度:±0.1ppm
 
超絶縁抵抗計電子材料の評価5×10!5~?2×10!16~Ω 
直流校正装置直流電圧校正1μV〜1100V
±0.01%
 
直流磁化特性測定磁性材料の特性解析及び磁気応用製品開発支援 永久磁石材料及び軟磁性材料の直流磁化特性測定最大測定磁界強度
2.5T(テスラ) 最大エネルギー積等測定
 
任意波形発生器シリアル通信波形の生成・出力サンプリング周波数 24GS/s
シリアル通信波形生成の最大レート 6Gbps
USB3.0のRxテスト信号生成
各種シリアル通信波形の模擬
 
熱測定装置電子部品・機器等の温度分布計測測定範囲:-20〜1200℃
空間分解能:100μm
 
半導体パラメータ測定装置半導体・電子材料及び部品の電気特性測定測定機能:直流電流/電圧/容量/直流電流-電圧特性 
表面抵抗測定装置表面抵抗の測定4探針法/6探針法
測定範囲:10mΩ/sq〜100GΩ/sq
 
不良解析プローバ電子デバイス、材料の電気特性評価マニピュレータ分解能:0.7μm
シールドボックス
 

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