精密・電子技術部門の保有設備



 設備名 : 光学特性計測装置
 
メーカ型式
ザイゴ社GPI-XPHR

仕様内容
レーザ干渉方式(非接触計測)
  平面度測定最大径 150mm
  球面度測定曲率 ±600mm 
  精度 0.015μm
レーザ干渉計(レーザー干渉による表面形状の高精度計測) 
光学素子の形状・透過波面収差の測定(ex レンズ形状測定)
測定項目:平面度、球面度、曲率半径、透過波面収差、角度

導入年度利用料担当部門担当部用途備考予約状況
19963700 円/時間精密測定依頼試験 設備利用 研究・相談 日本自転車振興会補助金
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