依頼試験 区分一覧


 区分1  機械金属
 区分2  材料組織試験

試験区分単位料金担当部門
材料精密環境情報食品
機械金属材料組織試験 金属顕微鏡によるもの 鉄系金属1件5,300 材料精密  
非鉄系金属1件7,100 材料精密  
走査型電子顕微鏡によるもの レプリカ試料1件11,000  精密  
直接観察試料表面形状観察による場合(a 倍率3万倍未満)1件3,000材料精密  
直接観察試料表面形状観察による場合(b 倍率3万倍以上)1件7,600 材料精密  
直接観察試料走査透過像観察による場合1件18,000材料   
直接観察試料エネルギー分散定性分析による場合1件7,800 材料   
直接観察試料エネルギー分散面分析による場合1件16,000 材料   
透過型電子顕微鏡によるもの 形態・構造撮影による場合1件123,000 材料   
電子線回折像撮影による場合1件121,000 材料   
STEM像撮影による場合1件118,000 材料   
走査型レーザー顕微鏡によるもの 常温観察1件2,300  精密  
高温観察1件4,400  精密  
高温濡れ性・固液接触角測定装置によるもの 静滴法による場合1件13,000 材料   
押し出し液滴法による場合1件124,000(1件を超える手数料の額は、その超える1件について13,000)材料   
デジタル顕微鏡によるもの 1件1,300  精密  
極低加速電圧走査型電子顕微鏡によるもの二次電子像又は反射電子像観察による場合(ア)加速電圧が0.5キロボルト以下のもの(a 倍率3万倍未満)1件7,600 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(ア)加速電圧が0.5キロボルト以下のもの(b 倍率3万倍以上10万倍未満)1件15,000 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(ア)加速電圧が0.5キロボルト以下のもの(c 倍率10万倍以上)1件30,000 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(イ)加速電圧が0.5キロボルトを超え3キロボルト以下のもの(a 倍率3万倍未満)1件5,800 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(イ)加速電圧が0.5キロボルトを超え3キロボルト以下のもの(b 倍率3万倍以上10万倍未満)1件11,000 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(イ)加速電圧が0.5キロボルトを超え3キロボルト以下のもの(c 倍率10万倍以上)1件23,000 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(ウ)加速電圧が3キロボルトを超えるもの(a 倍率3万倍未満)1件3,900 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(ウ)加速電圧が3キロボルトを超えるもの(b 倍率3万倍以上10万倍未満)1件7,600 精密  
二次電子像又は反射電子像観察による場合(ウ)加速電圧が3キロボルトを超えるもの(c 倍率10万倍以上)1件15,000 精密  
走査透過電子像観察による場合1件17,000 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(ア) 定性分析 (a 加速電圧が10キロボルト未満のもの)1件17,000(同一試料について1件を超える手数料の額は、その超える1件について、7,700) 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(ア) 定性分析 (b 加速電圧が10キロボルト以上のもの)1件11,000(同一試料について1件を超える手数料の額は、その超える1件について、5,800) 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(イ) 線分析 (a 加速電圧が10キロボルト未満のもの)1件(5元素までごとに1件とする。)11,000(1件を超える手数料の額は、その超える1件について、6,900) 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(イ) 線分析 (b 加速電圧が10キロボルト以上のもの)1件(5元素までごとに1件とする。)8,800(1件を超える手数料の額は、その超える1件について、4,600) 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(ウ) 面分析 (a 加速電圧が10キロボルト未満のもの)1件(5元素までごとに1件とする。)17,000(1件を超える手数料の額は、その超える1件について、11,000) 精密  
エネルギー分散型エックス線分析による場合(ウ) 面分析 (b 加速電圧が10キロボルト以上のもの)1件(5元素までごとに1件とする。)11,000(1件を超える手数料の額は、その超える1件について、7,700) 精密  
電子線後方散乱パターン分析による場合(ア) 測定点10万点未満1件50,000 精密  
電子線後方散乱パターン分析による場合(イ) 測定点10万点以上1件95,000 精密  
電子線後方散乱パターン分析による場合(ウ) データ解析1件(1解析項目ごとに1件とする。)4,600 精密  
集束イオンビーム加工観察装置によるもの断面(最初の加工は1時間分)1件9,900材料   
断面(追加の1件(1時間分))1件7,000材料   
薄片(最初の加工は1時間分)1件20,000材料   
薄片(追加の1件(1時間分))1件7,000材料   

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