保有設備 詳細表示


 設備名 : 半導体パラメータ測定装置
 
メーカ型式
HP社4062C

仕様内容
測定機能:直流電流/電圧/容量/直流電流-電圧特性半導体・電子材料及び部品の電気特性測定

導入年度利用料担当部門担当部用途備考予約状況
19891900 円/時間精密 依頼試験 設備利用 研究・相談
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