保有設備 詳細表示


 設備名 : 分析走査電子顕微鏡
 
メーカ型式
日本電子(株)JSM-6380LA

仕様内容
高真空時二次電子分解能3nm
低真空時反射電子分解能 4nm
EDSによる元素分析
電子部品や機械部品などの観察や分析

導入年度利用料担当部門担当部用途備考予約状況
20047600 円/時間材料材料化学依頼試験 設備利用 研究・相談 地域産業集積活性化対策事業補助金
環境制御型走査電子顕微鏡 の一部として導入
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